Cutter automatique Beta 300 Pro
La préparation des échantillons métallographiques commence avec un processus de coupe de ...
Pour les composants en saphir revêtus utilisés dans les applications d’optique et de précision, la coupe transversale métallographique est souvent utilisée pour évaluer l’épaisseur du revêtement et de la couche d’encre, la qualité de l’interface et l’intégrité globale.
Le défi est la préparation
Les revêtements minces peuvent facilement souffrir d'écaillage, de délaminage, d'arrachement ou d'arrondi lors de la coupe et du polissage, ce qui rend la section transversale finale difficile à mesurer avec précision.
Méthodologie et étapes
Pour cet échantillon, nous avons utilisé une coupe de précision à basse vitesse et un montage à froid pour minimiser les dommages mécaniques et thermiques, suivis d'un processus de meulage et de polissage progressif :
- Disque abrasif diamanté DiaRe P400 pour le prépolissage initial
- Disque de meulage fin POS 9 euh Suspension diamant polycristallin PD-WT
- Chiffon de polissage en soie blanche SC Suspension de diamant polycristallin PD-WT 3 um
- Tissu de polissage en soie blanche SC, 1 um, suspension de diamant polycristallin PD-WT pour un polissage fin
Résultats et conclusion
Pour des échantillons revêtus comme celui-ci, une bonne surface ne suffit pas : la préservation du véritable bord du revêtement est ce qui rend la mesure de l'épaisseur fiable.
#Métallographie #Saphir #Analyse de revêtement #Section transversale #Préparation d'échantillons #MatériauxOptiques
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.png?imageView2/2/w/400/format/jpg/q/75 "Chambre de pression ThetaMount")
